半导体-晶元翘曲测量2022.06.28

使用影像测量仪测量晶元翘曲度

中翰|点云助力地下工程检测系统2022.06.24

半导体-晶元表面粗糙度测量2022.06.21

技术挑战为了制备合乎器件和集成电路制作要求的硅片表面，必须进行抛光，以去除残留的损伤层并获得一定厚度的高平整度的镜面硅片。抛光分机械抛光、化学抛光、电子束抛光、离子束抛光，较普遍采用的是化学机械抛光。...

【6月19日】父亲节快乐2022.06.19

最好的风景在父亲肩头，最好的仪器在中翰仪器； 6.19 父亲节快乐。

无人机与雷达在道路规划设计的应用2022.06.17

Pentax 显微三维成像相机SD1002022.06.17

Pentax 显微三维成像相机SD100 直接获取显微三维影像并测量的智能相机， 升级您显微镜的观察和分析能力！

光刻用石英玻璃晶元粗糙度测量2022.06.15

用于半导体的石英玻璃表面非常光滑，其表面经过机器抛光及化学抛光处理。目前测量表面粗糙度常用的方法有比较法、光切法、干涉法、针描法和印模法等；这里我们介绍使用干涉方法测量粗糙度的方法。一般评价晶元表面粗糙度使用（GB/T 32189氮化稼单晶衬底表面粗糙度检测方法），使用机器一般为原子力显微镜或干涉仪。

无人机与雷达在道路规划设计的应用2022.06.10

项目背景</h2>随着经济与社会的发展，公路勘察设计逐渐由二维向三维发展，在无人机辅助下的公路设计，解放了人力，大幅度提高了工作效率。但是在植被覆盖率比较高的地方，高程获取不是很准确，如果采用传统测量，使...

无人机机载Lidar地形测量-平凉灵台项目2022.06.09

随着无人机测绘技术的高速发展，无人机摄影测量技术和无人机机载雷达测量技术，都已经广泛的应用各个领域。如地形图测绘、电力巡检、自然资源调查、矿山测量、地质灾害调查、公路设计等。无人机载雷达技术是测绘行业最为重要的技术手段之一，具有效率高、精度高、能滤除植被等优点。倾斜摄影测量可以得到高分辨率的光学影像，可以很直观的得到现场情况。但是在植被覆盖率高的地方，局限性还是较大，无法夜间工作，且外业相控作业量也较大。激光雷达技术的发展正好弥补了倾斜摄影的弊端，不仅高效率、高精度,可以过滤掉不需要的地物，也可以夜间工作，不需要去现场采集大量像控点来提高精度。在道路设计施工方面运用，可以有效的剔除植被，提高精度，得到地表的高程信息。