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XT V 130电子X射线检测

产品型号:

产品名称:XT V 130电子X射线检测

性能特点: ◎拥有专利的微焦点源(3微米焦点大小)
◎最大60度的倾斜角度,便于轻松检测内部特征
◎极高的16位分辨率成像和图像处理工具

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XT V 130射线系统专为(μ)BGA、多层和PCB焊点检测而设计,是一套精度高且异常灵活的系统,可方便地对装配了电子元器件的电路板进行缺陷分析。

特点:

◎拥有专利的微焦点源(3微米焦点大小)

◎最大60度的倾斜角度,便于轻松检测内部特征

◎极高的16位分辨率成像和图像处理工具

电   话: 010-62553066
010-62565779(总机)

传   真: 010-62566652

测量部:400-172-5117

测定部:400-820-5501